ÀÔÀÚ °è¼ö±â ¹× ºÐÀÚ ¿À¿° ¸ð´ÏÅÍ

Lasair III À̵¿ ÀÔÀÚ °è¼ö±â

Á¤º¸ ÇÏÀ̶óÀÌÆ®

ÀÔÀÚ °è¼ö¿¡ °üÇÑ ±âº» °¡À̵å

ÀÔÀÚ °è¼ö¿¡ °üÇÑ ±âº» °¡À̵å

ÀÔÀÚ °è¼ö ±â¼úÀÇ ±âº» Áö½Ä.

Lasair III À̵¿ ÀÔÀÚ °è¼ö±â

Lasair III À̵¿ ÀÔÀÚ °è¼ö±â

LASAIR III ÀÔÀÚ °è¼ö±â´Â ÀÔÀÚ ¸ð´ÏÅ͸µÀÇ »õ·Î¿î ±âÁØÀÔ´Ï´Ù

ºÐÀÚ ¿À¿° ¸ð´ÏÅ͸µ

ºÐÀÚ ¿À¿° ¸ð´ÏÅ͸µ

ÃÖÀûÈ­µÈ ºÐÀÚ ¿À¿° ¸ð´ÏÅ͸µÀ» ÀÐÀ¸½Ê½Ã¿À.

ÀÔÀÚ °è¼ö±â ¼±Åà ¹æ¹ý

ÀÔÀÚ °è¼ö±â ¼±Åà ¹æ¹ý

ÀÌ ¹®¼­´Â ÀÔÀÚ °è¼ö±â¸¦ ±¸ÀÔÇÒ ¶§ °í·ÁÇÒ Çʿ䰡 ÀÖ´Â Ç׸ñÀ» °ËÅäÇÏ´Â °ÍÀÔ´Ï´Ù.

ºÐÀÚ ÃøÁ¤ ½Ã½ºÅÛ

Á¦Ç°À» º¸È£Çϰųª ISO 14644, USP 797, ¶Ç´Â GMP, °°Àº »ê¾÷ ¿ä±¸Á¶°ÇÀ» ÃæÁ·½Ã۱â À§ÇØ Particle Measuring SystemsÀº ±¤¹üÀ§ÇÏ°í ´Ù¾çÇÑ ÀÔÀÚ °è¼ö±â ¹× ºÐÀÚ ¸ð´ÏÅ͸¦ ¸¸µé°í ÀÖ½À´Ï´Ù. 35³âÀÇ °æÇèÀ¸·Î ±ÍÇÏÀÇ ¿ëµµ¸¦ Áö¿øÇÏ´Â ÀÔÁõµÈ ½Å·Ú¼ºÀ» °¡Áö°í ÀÖ½À´Ï´Ù.

ÀÔÀÚ °è¼ö±â

½Å·ÚÇÒ ¼ö ÀÖ´Â ÀÔÀÚ °è¼ö±â·Î ±ÍÇÏÀÇ Á¦Ç°À» º¸È£ÇϽʽÿÀ. ÀúÈñ´Â DI ¿öÅÍ, È­Çй°Áú ¹× Å©¸°·ë ¸ð´ÏÅ͸µÀ» Æ÷ÇÔÇÏ¿© °øÁß, À̵¿¿ë ¹× ¾×ü °è¼ö±â¸¦ ¸¸µé°í ÀÖ½À´Ï´Ù. ÀúÈñÀÇ ¹®¼­¸¦ Àаí ÀÔÀÚ °è¼ö±â¸¦ ºñ±³Çϰųª Å©¸°·ë ¶Ç´Â Á¦Ç°À» ¸ð´ÏÅ͸µÇÏ´Â ¹æ¹ýÀ» ¹è¿ì½Ê½Ã¿À.

ºÐÀÚ ¿À¿° ¸ð´ÏÅÍ

Molecular contamination creates costly problems to high value products, ºÐÀÚ ¿À¿°Àº °í°¡ Á¦Ç°, Á¦Ç° °øÁ¤ ¹× Àåºñ Ç¥¸é¿¡ °ªºñ½Ñ ¹®Á¦¸¦ ÀÏÀ¸Åµ´Ï´Ù. ÀúÈñ´Â °øÁß ºÐÀÚ ¿À¿°(AMC)¿Í Ç¥¸é ºÐÀÚ ¿À¿°(SMC) µÑ ´Ù¿¡ ´ëÇÑ ¼Ö·ç¼ÇÀ» °¡Áö°í ÀÖ½À´Ï´Ù. Á¶(trillion)ºÐÀÇ ÀÔÀÚ °¨Áö, ½Ç½Ã°£ »ùÇøµ, NIST ÃßÀû°¡´É ¹üÀ§ ¹× ´Ù¾çÇÑ ºÐ¼® ÆÐŰÁö·Î È®½ÅÀ» °¡Áö°í ¸ð´ÏÅ͸µÀ» ÇÒ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.

°¡½º °¨Áö±â

°øÁ¤ Á¦¾î ¶Ç´Â Áö¼ÓÀûÀÎ ¹æÃâ ¸ð´ÏÅ͸µÀ» À§ÇÑ °¡½º °¨Áö±â°¡ ÇÊ¿äÇϸé ÀúÈñ°¡ µµ¿ï ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù. ÀÛ¾÷ÀÚ º¸È£, CEM ¹× ¿À¿° ¸ð´ÏÅ͸µÀ» À§ÇÑ ¾Ï¸ð´Ï¾Æ, ¼ö¼ÒÇ÷ç¿À¸£È­¹° ¹× ¿°¼Ò °¨Áö±â·Î ½Ç½Ã°£, ½Å·ÚÇÒ ¼ö ÀÖ´Â °á°ú¸¦ ¾òÀ¸½Ê½Ã¿À.

Á¦Ç° ÇÏÀ̶óÀÌÆ®

°øÁß ÀÔÀÚ °è¼ö±â

°øÁß ÀÔÀÚ °è¼ö±â

½Ã¼³ ¸ð´ÏÅ͸µ ½Ã½ºÅÛ, À̵¿°¡´É, ¼ÕÈÞ´ë¿ë ¹× ÀÎÁõ ÀÔÀÚ °è¼ö±â.

¾×ü ÀÔÀÚ °è¼ö±â

¾×ü ÀÔÀÚ °è¼ö±â

È­Çй°Áú ¶Ç´Â ÃÊ°í¼øµµ ¹°À» ¸ð´ÏÅ͸µ Çϴµ¥ ÀúÈñ´Â °í°¨µµÀÇ ½Å·Ú¼ºÀÖ´Â ¼Ö·ç¼ÇÀ» °¡Áö°í ÀÖ½À´Ï´Ù.

Á¦¾à¿ë ÀÔÀÚ °è¼ö±â

Á¦¾à¿ë ÀÔÀÚ °è¼ö±â

USP, GMP, cGMP, GAMP , EU, FDA, JP - ÀúÈñ´Â ¸ðµç ±ÔÁ¦»çÇ×À» ÀÌÇØÇϰí ÀÖÀ¸¸ç ±ÍÇϰ¡ ÁؼöÇϴµ¥ µ½½À´Ï´Ù.

ºÐÀÚ ¸ð´ÏÅÍ

ºÐÀÚ ¸ð´ÏÅÍ

°í°¨µµÀÇ, ½Å·Ú¼ºÀÖ´Â, ºñ¿ëÈ¿À²ÀûÀÎ Àåºñ.

¹®¼­ ¿¬¶ôó ȸ»ç ¼Ò°³ »çÀÌÆ® ¸Ê Âü°í

ÃøÁ¤ÇÏÁö ¾Ê°í´Â Á¦¾îÇÒ ¼öµµ ¾ø´Ù
© 2002-2009 Particle Measuring Systems, Inc.

ÀÌ À¥»çÀÌÆ®ÀÇ Á¤º¸´Â ¿¹°í¾øÀÌ º¯°æµÉ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.

Web Media Engineering - website design Denver Colorado