パーティクルカレッジ開催のお知らせ

2010年10月5日、6日に東京・品川で「パーティクルカウンターの基礎」セミナーを開催します。

Particle Measuring Systems社

製品を守る、あるいは ISO 14644、 USP 797、 GMPなどの工業規格を遵守するために、Particle Measuring Systems社では用途に合わせた パーティクルカウンタと分子モニタを幅広く提供しています。35年の実績を持ち、アプリケーションのサポートにおける信頼性は高い評価を受けています。

パーティクルカウンター

御社の製品を当社の信頼あるパーティクルカウンタで守りましょう。当社では、 DI水（高純水）、 化学薬品、 クリーンルームを監視する幅広いアプリケーションに対応した 気中、 移動型、 液中パーティクルカウンタを提供しています。 パーティクルカウンタの比較や、クリーンルームあるいは製品の監視方法に関しては 技術資料をご参照ください。

分子汚染モニター

分子汚染は高額製品や生産ライン、機器の表面に多大な悪影響をもたらします。当社では、 気中分子汚染（AMC）および 表面分子汚染（SMC）対策ソリューションを提供いたしております。pptレベルまで検出できる性能、リアルタイムサンプル検出、NISTトレーサビリティーが取れた校正ガスの使用、多彩なデータ分析パッケージにより、安心して汚染状況を監視することができます。

ガス検知器

生産管理や 連続的排出ガスモニタリングに ガス検知器 が必要な場合は当社にご相談ください。作業者の保護、連続的排ガスモニタリング、汚染モニタリングのために、 アンモニア、 フッ化水素、 塩素 をリアルタイムで監視し、信頼性の高い分析結果を得ることができます。