Ultra DI® 20 리퀴드 파티클 카운터
Sensitivity range: 20 - 100 nm
Ultra DI® 20 리퀴드 파티클 카운터
초순수 시스템을 위해 특별히 고안된 Ultra DI® 20 리퀴드 파티클 카운터는 통계적으로 의미있는 데이터를 신속하게 획득하고 20nm 크기의 오염물질까지 계수하고 크기를 식별합니다. 기구가 이동하더라도 유지되는 일관성으로 인해 데이터로부터 더 많은 것을 얻을 수 있으며, 그리하여 공정을 더 많이 컨트롤 할 수 있게 됩니다. Ultra DI 20 파티클 카운터는 낮은 제로 계수, 큰 샘플 체적 그리고 높은 계수 효율을 가짐으로써 타의 추종을 불허하는 파티클 탐지를 보여줍니다. 향상된 감도 덕분에 20nm 폴리스티렌 라텍스(PSL) 및 9nm 금(Au)로 더 신속하게 공정의 변동을 감지할 수 있습니다.
제품 상세 내역
Ultrapure Water UPW Contamination Control / 20 nm Particle Counting
Glen Slayter, UPW Analytical Development Engineer at Intel Corporation, and Dr. Dan Rodier, Scientist at Particle Measuring Systems discuss collaboration, benefits and science of 20 nm liquid particle counting.
리소스
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