測定粒径：0.1 - 10.0 µm
Lasair III 110 は半導体レーザーを搭載した、最小可測粒径0.1 µm、流量28.3 L/minの気中パーティクルカウンターで、ISOクラス1から9までの評価・検証に広く対応します。頑丈で耐薬性の高いステンレスボディーに、保証期間3年の半導体レーザーを搭載し、メンテナンスの負担を軽減します。
ディスプレイ、プリンターを搭載していないインライン測定専用モデルもあります。
専用のアクセサリー HPD II 100 高圧ディフューザーを使用すると、クリーンドライエアー、窒素、二酸化炭素、アルゴンといった無毒・不活性の高圧ガスに浮遊する微粒子の測定が可能です。
多点モニタリングを1台の気中パーティクルカウンターで実現する装置。測定点あたりのコストを抑えた高頻度モニタリングが可能。Lasair® III シリーズの気中パーティクルカウンターに適応します。
Facility Net Facility Monitoring Softwareは、パーティクルカウンタおよび分子汚染モニタ等を用い、常時モニタリングを実施する際…
ISO 14644-1:2015に適合したクリーンルームの評価・検証が可能な気中パーティクルカウンター。ISO 21501-4に準拠。オプションのバッテリー装着でポータブル用途に対応。
手のひらサイズの携帯型高感度モニタリングツール。カラータッチスクリーンで簡単操作。コンパクトながらISO 14644-1:2015に適合したクリーンルームの検証から大気中のPM 2.5やPM 5の測定まで可能な汎用型製品。
