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Environmental Monitoring Systems

Contrôle industriel vs solution PC: assurer l'intégrité des données dans un système de monitoring de salle blanche

La tendance actuelle dans les Systèmes de Monitoring Environnemental (EMS) est de se concentrer sur l’intégrité des données en utilisant une solution industrielle automatisée au lieu d’une approche plus ancienne basée sur PC. Les systèmes de Monitoring de l’environnement sur PC étaient courants à la fin des années 1990 et au début des années 2000 et constituaient la solution préférée car ils coûtaient moins cher au départ et leur temps d’installation était plus court que les systèmes de contrôle automatisés.

Monitoring environnemental pour salles blanches à partir de systèmes de mesure de particules PMS

Cependant, au cours des dix dernières années, la fiabilité et la complexité des exigences des EMS ont augmenté tandis que les coûts des solutions industrielles automatisées de surveillance de l’environnement ont diminué. Les exigences de l’industrie pharmaceutique pour une solution EMS plus robuste et plus fiable, qui protège l’intégrité des données, poussent les installations à préférer une solution de contrôle automatisé industriel.

Regardez ce webinaire à la demande de Particle Measuring Systems pour en savoir plus sur les différentes options et considérations pour protéger l’intégrité de vos données dans un système de monitoring environnemental

 

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Particle Measuring Systems (PMS) propose des solutions complètes de monitoring de l’environnement en salles blanches, notamment:Systèmes de Monitoring environnemental pour salles blanches de PMS

 

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Particle Measuring Systems est direct sur tous les principaux marchés et en mesure d’assurer le même support continu, peu importe où vous vous trouvez.

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  • Presenter

    Davide Recchia

    Life Sciences, Development Director

    Davide Recchia is the Life Sciences Development Director for Particle Measuring Systems. He has also held the positions of Global Product Line Manager for Software and Systems and R&D Manager for Particle Measuring Systems. Previously, he was an R&D Manager for Amplifon. He has an MBA from MIP Politecnico Di Milano.

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