David Green, ingénieur d’application chez Particle Measuring Systems, a présenté un rapport sur les « Stratégies avancées d’analyse des données pour comprendre la contamination particulaire dans les systèmes de distribution de produits chimiques » au récent salon UCPSS. Le rapport a montré comment, grâce à l’application de techniques avancées d’analyse des données, les données produites par des compteurs de particules optiques peuvent être utilisées pour identifier et caractériser les sources de contamination particulaire non aléatoire et systématique dans les systèmes de distribution liquide, contribuant ainsi à améliorer le rendement global. La contamination particulaire non aléatoire et systématique peut être causée par les pompes, les valves et les variations de la demande de produit chimique à partir d’outils. Les techniques d’analyse peuvent ensuite être utilisées pour vérifier l’efficacité des efforts déployés pour traiter ces sources de contamination.
« J’ai beaucoup apprécié de pouvoir partager notre expertise sur la façon dont les techniques d’analyse des données peuvent s’appliquer aux données de comptage de particules pour isoler les sources de contamination systématique dans les systèmes de distribution chimique, et ainsi contribuer à améliorer le rendement », a déclaré M. Green.
Pour en savoir plus sur ce sujet, téléchargez le rapport Stratégies avancées d’analyse des données pour comprendre la contamination particulaire dans les systèmes de distribution de produits chimiques.
