ÀÔÀÚ °è¼ö±â ¼­ºñ½º, ÃøÁ¤ ¹× Á¤ºñ

• ¼­ºñ½º ÀÇ·Ú ¾ç½Ä

ÀúÈñ Particle Measuring SystemsÀÇ ¼­ºñ½ººÎ´Â ´ç»çÀÇ Àåºñ°¡ Á¤È®ÇÑ µ¥ÀÌÅ͸¦ Á¦°øÇϵµ·Ï ÃøÁ¤ ¹× ¼ö¸® ¼­ºñ½º¸¦ Á¦°øÇÔÀ¸·Î½á °í°´ÀÌ ¼¼°è¿¡¼­ °¡Àå ¿ì¼öÇÑ ÀÔÀÚ °è¼ö±â·ÎºÎÅÍ ÃÖ»óÀÇ °á°ú¸¦ ¾òµµ·Ï Áö¿øÇÕ´Ï´Ù. ´ç»ç´Â ½Å¼ÓÇÑ °í°´ ¼­ºñ½º¿¡ ¿ªÁ¡À» µÎ°í ÀÖÀ¸¹Ç·Î, Àû½Ã¿¡ ÇöÀå¿¡¼­ ¼­ºñ½º¸¦ Á¦°øÇϱâ À§ÇÏ¿© ¹Ì±¹ Àü¿ª¿¡ ÀÏ´ÜÀÇ Â÷·® ¼­ºñ½ºÆÀÀ» ¿î¿µÇÏ°í ÀÖ½À´Ï´Ù. °¢ Áö¿ªÀÇ ¼­ºñ½ºÆÀÀº ÄݷζóµµÁÖ º¼´õ½Ã¿¡ À§Ä¡ÇÑ º»»çÀÇ ÃֽŠ¼­ºñ½º ¼¾ÅͷκÎÅÍ Áö¿øÀ» ¹Þ½À´Ï´Ù.

´ç»ç´Â ¿¹»óÄ¡ ¸øÇÑ ºñ¿ëÀÇ ÁöÃâÀ» ÁÙÀÌ°í ½Ã°£À» Àý¾àÇÒ ¼ö ÀÖ´Â ±¤¹üÀ§ÇÑ ¼­ºñ½º¸¦ Á¦°øÇÏ°í ÀÖ´Â ¹Ù, ¿©±â¿¡´Â ÇöÀå ÃøÁ¤, ÇöÀå ÅõÀÔ ÀηÂ, ¼­ºñ½º °è¾à ¹× ´ë±Ô¸ðÀÇ ½Ã½ºÅÛ ¼³Ä¡¸¦ À§ÇÑ °ü¸®ÆÀÀÌ Æ÷ÇԵǾî ÀÖ½À´Ï´Ù. ÀúÈñ Particle Measuring Systems´Â °í°´ÀÇ ¿¹»ê°ú Àåºñ °ü¸® ¼ö¿ä¿¡ ÀûÇÕÇÑ ¸ÂÃã½Ä ¼­ºñ½º Á¦Ç°À» Á¦°øÇÒ °ÍÀÔ´Ï´Ù.

¼¼°èÀû ¼öÁØÀÇ °í°´ ¼­ºñ½º

ÀúÈñ Particle Measuring SystemsÀÇ Á÷¿øÀº °í°´ÀÇ ¿ä±¸¿¡ ½Å¼ÓÇÏ°í È¿°úÀûÀ¸·Î ´ëóÇÒ ¼ö ÀÖ´Â °íµµÀÇ ÈƷðú °í±Þ ±³À°À» ¹Þ¾Ò½À´Ï´Ù. ÀÌ·¯ÇÑ ±â¼úÀÚµéÀ» Àü·«ÀûÀÎ °üÁ¡¿¡ µû¶ó ¹Ì±¹ Àü¿ª¿¡ ¹èÄ¡ÇÏ¿´½À´Ï´Ù. ¶ÇÇÑ ÀúÈñ´Â ÄݷζóµµÁÖ º¼´õ½Ã¿¡ À§Ä¡ÇÑ °øÀå º»»ç¿¡ ¼¼°èÀûÀÎ ¼öÁØÀÇ ¼­ºñ½º ¼¾Å͸¦ ¼³Ä¡ÇÏ¿´½À´Ï´Ù. ÀÌ ¼¾ÅÍ¿¡´Â °í°´ÀÇ ¿ä±¸¿¡ ¾ðÁ¦µç ´ëóÇÒ ¼ö ÀÖµµ·Ï ¾à 4,000 ÀÔ¹æÇÇÆ® ÀÌ»óÀÇ ÃֽŠ¼­ºñ½º Àåºñ°¡ °®Ãß¾îÁ® ÀÖ½À´Ï´Ù.

ÃøÁ¤ ¼­ºñ½º

ÀúÈñ Particle Measuring Systems´Â ÃøÁ¤ ½Ã NISTÀÇ ÃßÀû °¡´É Ç¥ÁØÀ» »ç¿ëÇÕ´Ï´Ù. ÃøÁ¤Àº ´ç»çÀÇ °øÀå ¼­ºñ½º ¼¾Åͳª °í°´ÀÇ ¼³ºñ¿¡¼­ ÀÌ·ç¾îÁý´Ï´Ù. ¸ðµç ÃøÁ¤Àº ISO Áöħ¿¡ µû¶ó ¾ö°ÝÇÏ°Ô ½Ç½ÃµË´Ï´Ù. ´ç»ç´Â ¶ÇÇÑ Ã¹ ¹ø° ä³Î °¨µµ¿¡ ´ëÇÑ ºÎµî°è¼ö È¿À² Å×½ºÆ®¸¦ Á¦°øÇÕ´Ï´Ù. NIST ÃßÀû °¡´É ÃøÁ¤ ÀÎÁõ¼­´Â NIST ¸í¼¼ÀÇ Áؼö ¿©ºÎ¸¦ Áõ¸íÇÏ´Â Áõ¼­ÀÇ ±³ºÎ Á¶°ÇÀ» ÃæÁ·½ÃÅ°´Â °¢ ÃøÁ¤¿¡ µû¶ó ¹ßºÎµË´Ï´Ù.

µ¥ÀÌÅÍ ºÐ¼®ÀÇ Àü°ú ÈÄ

Ç¥ÁØ ÃøÁ¤¿¡ ´ëÇÑ º¸¿ÏÀ¸·Î¼­, ÀúÈñ Particle Measuring Systems´Â ÀåºñÀÇ ¿ø·¡ µ¥ÀÌÅͷμ­ ¸¶·ÃÇÑ º¸°­µÈ ÃøÁ¤ ¼­ºñ½º¸¦ Á¦°øÇÕ´Ï´Ù. ´ç»ç´Â ¿äû¹ÞÀº ¼­ºñ½º ¹× ÃøÁ¤À» ½Ç½ÃÇϱâ Àü¿¡ ¿ì¸®³ª¶óÀÇ ISO ±Ô°Ý¿¡ µû¶ó ±× °è±âÀÇ ¿ø·¡ »óŸ¦ ¿ÏÀüÈ÷ Å×½ºÆ®ÇÏ¿© ±â·ÏÇÕ´Ï´Ù. ÀÌ·¯ÇÑ À¯¿ëÇÑ ¼­ºñ½º·Î ÀÎÇØ °í°´Àº ¿À·£ ±â°£¿¡ °ÉÄ£ ÀåºñÀÇ ¼º´É º¯È­¸¦ ºÐ¼®ÇÏ¿© Á¦Ç°ÀÇ ¼º´ÉÀ» ÃÖ»óÀ¸·Î À¯ÁöÇÒ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.

Á¦¾à¿ë ÃøÁ¤

Á¦¾à¿ë Àåºñ¿¡ »ç¿ëµÇ´Â ÀÔÀÚ °è¼ö±â¿¡ ´ëÇؼ­´Â 6 ¶Ç´Â 12°³¿ù¸¶´Ù ÃøÁ¤À» ½Ç½ÃÇÕ´Ï´Ù. ÀÌ ºÐ¾ß¿¡¼­´Â Àý´ëÀûÀÎ Á¤¹Ð¼ºÀÌ ÇÊ¿äÇÕ´Ï´Ù. °¢ ÃøÁ¤ÀÇ Àü ±â°£ Áß ÀÔÀÚ °è¼ö±â°¡ ¾ÈÁ¤µÈ »óŸ¦ À¯ÁöÇÒ ¼ö ÀÖµµ·Ï ¿ø·¡ »óÅ¿¡ ´ëÇÑ ¿ÏÀüÇÑ ºÐ¼®À» ±â·ÏÇÕ´Ï´Ù. ÀÌ °æ¿ì NIST ÃßÀû °¡´É ÃøÁ¤Àº ÇöÀçÀÇ GMP ¹× FDA ¿ä°ÇÀ» ¿ÏÀüÈ÷ ÃæÁ·½ÃÅ°¸ç, µû¶ó¼­ ÀÎÁõ¼­°¡ ¹ßºÎµË´Ï´Ù.

±ä±Þ ¼­ºñ½º

¾î¶² °æ¿ì¿¡´Â °í°´¿¡°Ô °¡Àå Áß¿äÇÑ Àåºñ¿¡ ´ëÇÑ ¼­ºñ½º ÀÏÁ¤À» °èȹÇϱ⠾î·Á¿ï ¶§°¡ ÀÖ½À´Ï´Ù. ÇöÀå ±â»çÀÇ ³×Æ®¿öÅ©¸¦ ÀÌ¿ëÇÏ¿© Particle Measuring Systems´Â °í°´ÀÇ ¹®Á¦¸¦ ÆľÇÇÏ¿© ÀÌ·¯ÇÑ Àåºñ ÀüüÀÇ »ç¾÷ »ó½Ã ¿î¿µ ½Ã½ºÅÛ ¹× ±ä±Þ ¼­ºñ½º¸¦ Á¦°øÇÕ´Ï´Ù. ÀÌ ¼­ºñ½º ¿É¼Ç¿¡´Â Á¢¼ö ÈÄ 72½Ã°£ ³» ¼ö¸® º¸ÁõÀÌ Æ÷ÇԵǾî ÀÖ½À´Ï´Ù.

ÃøÁ¤ °è¾à

ÃøÁ¤ °è¾àÀ» ±¸¸ÅÇÏ¿© Àåºñ¸¦ »çÀü¿¡ °Ë»çÇϽʽÿÀ. ´ç»ç´Â ¸Å³â ÀúÈñ °øÀåÀÇ ¼­ºñ½º ¼¾Åͳª °í°´ÀÇ »ç¾÷Àå¿¡¼­ ÃøÁ¤À» ½Ç½ÃÇÒ °ÍÀÔ´Ï´Ù.

È®´ë º¸Áõ °è¾à

È®´ëµÈ º¸Áõ °è¾àÀ» ±¸¸ÅÇÒ °æ¿ì, °í°´Àº ¼Ò¿ä ºñ¿ëÀ» È®Á¤ÇÏ¿© ¿¹»êÀÇ Çѵµ ³»¿¡¼­ Áß¿äÇÑ ¹Ì¼¼ÀÔÀÚ ¿À¿° ¸ð´ÏÅ͸µ ÀåÄ¡¸¦ °ü¸®ÇÒ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù. ÀÌ °è¾à¿¡´Â ¿¬°£ ÃøÁ¤ ¹× ¸ðµç ºÎÇ°°ú ÀÛ¾÷¿¡ °üÇÑ Ç׸ñÀÌ Æ÷ÇԵǾî ÀÖ½À´Ï´Ù. ¼­ºñ½º´Â ´ç»çÀÇ °øÀå ¼­ºñ½º ¼¾Åͳª °í°´ÀÇ »ç¾÷Àå¿¡¼­ ÀÌ·çÁý´Ï´Ù. Àåºñ¸¦ Àß °ü¸®ÇÏ¿© ÀåºñÀÇ ¼º´É¿¡ ´ëÇؼ­´Â ÀüÇô ¿ì·ÁÇÏÁö ¾Ê°í ÇÙ½É »ç¾÷¿¡¸¸ Àü³äÇϽʽÿÀ.

¿¬¶ôó