À¥Ä³½ºÆ®: USP¿¡ °üÇÑ È®½ÇÇÑ »ç½ÇÀÌ À¥Ä³½ºÆ®´Â 2007³â 1¿ù 30ÀÏ¿¡ »ý¹æ¼ÛÀ¸·Î º¼ ¼ö ÀÖ°í, 2008³â 1¿ù 30ÀϱîÁö º¼ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù. |
© 2002-2008 Particle Measuring Systems, Inc.
ÀÌ À¥»çÀÌÆ®ÀÇ Á¤º¸´Â ¿¹°í¾øÀÌ º¯°æµÉ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.
À¥Ä³½ºÆ®: USP¿¡ °üÇÑ È®½ÇÇÑ »ç½ÇÀÌ À¥Ä³½ºÆ®´Â 2007³â 1¿ù 30ÀÏ¿¡ »ý¹æ¼ÛÀ¸·Î º¼ ¼ö ÀÖ°í, 2008³â 1¿ù 30ÀϱîÁö º¼ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù. |
ÀÌ À¥»çÀÌÆ®ÀÇ Á¤º¸´Â ¿¹°í¾øÀÌ º¯°æµÉ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.