ÀÔÀÚ ¹× ºÐÀÚ ¿À¿° ±³À° ¼ºñ½º
ÀúÈñ Particle Measuring SystemsÀÇ ±³À° ¼¾ÅÍ´Â ´ç»çÀÇ °øÀå°ú °í°´ÀÇ ÇöÀå¿¡¼ Àü¹®ÈµÇ°í ÁýÁßÀûÀÎ ÇÁ·Î±×·¥À» Á¦°øÇÕ´Ï´Ù. ¸ðµç ÇDZ³À°ÀÚ´Â ÀûÀýÇÑ ±â¼ú Àç·á ¹ÙÀδõ¿Í ¼¼¹Ì³ª Áß¿¡ ¼Ò°³µÈ ¸ðµç ÇÁ·¹Á¨Å×À̼ÇÀÇ º¹»çº»À» ¹Þ½À´Ï´Ù. ÀÌ ÇÁ·Î±×·¥Àº °ÀÇ, ½Ã¿¬ ¹× Á÷Á¢ ½Ç½ÀÀ¸·Î ±¸¼ºµÇ¾î ÀÖ½À´Ï´Ù. ´Ù¾çÇÑ ÇÁ·Î±×·¥ ÁÖÁ¦¸¦ Á¦½ÃÇÒ ¼ö ÀÖÀ¸¸ç, °í°´ÀÇ °ü½É°ú ¿äû¿¡ µû¶ó ¸ÂÃã½ÄÀ¸·Î ÇÁ·Î±×·¥À» ±¸¼ºÇÕ´Ï´Ù.
ÀÌ·Ð ±³À°
- ÀÔÀÚ ¹°¸®ÇÐ
- ÀÔÀÚ °è¼ö±âÀÇ ±âÃÊ
- ÀÔÀÚ °è¼öÀÇ Åë°èÇÐ ÀÌÇØ
- ºÐÀÚ ¿À¿° ÀÌ·Ð
Á¦Ç° ¹× »ç¿ë ±³À°
- °ø±â ºÎÀ¯ ÀÔÀÚ ¸ð´ÏÅ͸µ ¹× ½Ã½ºÅÛ ¼³°è
- UPW¿Í °øÁ¤ ÇÏÇй°Áú ³»ÀÇ ÀÔÀÚ ¸ð´ÏÅ͸µ
- Ç¥¸é ÀÔÀÚ Å×½ºÆ®
- CMP ½½·¯¸® ¸ð´ÏÅ͸µ
- ºÐÀÚ ¿À¿° ¸ð´ÏÅ͸µ (AMC ¹× SMC)
- ISO 14644 Áؼö
- Á¦Ç° ÀÛµ¿, Á¤ºñ, ¹®Á¦ ÇØ°á
ºñ°í: ÀúÈñ Particle Measuring Systems¸¸ÀÌ °øÀå¿¡¼ Àΰ¡¹Þ´Â ¼ºñ½º ¼¾ÅÍ¿Í ¹è±Þ»ç¿¡ ´ëÇÑ Á¦Ç° ¼ö¸® ¹× ÃøÁ¤ ±³À°À» ½Ç½ÃÇÕ´Ï´Ù.
´ç»çÀÇ ±³À° ¹× ¼ºñ½º ºê·Î¼Å ´Ù¿î·Îµå (148.2 KB)
´ç»çÀÇ ¼ºñ½º¿¡ °üÇÑ Ãß°¡ Á¤º¸°¡ ÇÊ¿äÇÑ °æ¿ì, ¿¬¶ôó:
Aaron Shupp
ashupp@pmeasuring.com
ÀüÈ: (303) 443-7100 ext. 454
¹«·á ÀüÈ: (800) 238-1801
© 2002-2008 Particle Measuring Systems, Inc.
ÀÌ À¥»çÀÌÆ®ÀÇ Á¤º¸´Â ¿¹°í¾øÀÌ º¯°æµÉ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.
