ºÐÀÚ ¿À¿°
ÀúÈñ Particle Measuring SystemsÀÇ ºÐÀÚ ºÎ¼´Â °ø±â ºÎÀ¯ ¹× Ç¥¸é ÀÔÀÚ ¿À¿°ÀÇ ¸ð´ÏÅ͸µÀ» Àü´ãÇÕ´Ï´Ù (AMC ¹× SMC). ¹ÝµµÃ¼ »ê¾÷¿¡¼ ½Ç½Ã°£ ¸ð´ÏÅ͸µÀÇ ¼±±¸Àڷμ, ÀúÈñ´Â ¼º°øÀûÀ¸·Î ¿À¿° ¼öÁØÀ» ÃøÁ¤ÇÏ°í ±× ¼Ò½º ¹× °æÇâÀ» È®ÀÎÇÏ¸ç ¹®Á¦¸¦ ÇØ°áÇÒ ¼ö ÀÖ´Â ÀÚ·á¿Í Àü¹®Áö½ÄÀ» º¸À¯ÇÏ°í ÀÖ½À´Ï´Ù. ÀúÈñ´Â °í°´ÀÇ Çʿ伺¿¡ ±Ù°ÅÇÏ¿© ¼±ÅÃÇÑ ¿ÏÀüÇÑ ºÐÀÚ °ü·Ã ¼ºñ½º¸¦ Á¦°øÇÕ´Ï´Ù.
ÇöÀå Ž»ç
- °ø±â ÁßÀÇ »êȹ° ºÐ¼®
- °ø±â ÁßÀÇ ¾Ï¸ð´Ï¾Æ ¹× ¾Æ¹Î ºÐ¼®
- °ø±â ÁßÀÇ À¯±â ÈÇÕ¹° ºÐ¼® (ÅºÈ ¼ö¼Ò, ±Ô¼Ò ÈÇÕ¹°, NMP µî)
- Ç¥¸é ÀÀÃ๰ ¹× ¹Ì·® ±Ý¼ÓÀÇ ºÐ¼®
°øÁ¤ Ư¼º
- ½Ç½Ã°£ AMC ¸ð´ÏÅ͸µ
- ½Ç½Ã°£ SMC ¸ð´ÏÅ͸µ
- °øÁ¤ °¡½º, CDA ¶Ç´Â ÇÊÅÍÀÇ È¿À²¼º ¸ð´ÏÅ͸µ
- FOUP, ·¹Æ¼Å¬ Æ÷µå µîÀÇ ±âü Á¦°Å Å×½ºÆ®
¹®Á¦ ÇØ°á
- ¹®Á¦ ÇØ°á Àü¹®°¡°¡ ¹®Á¦¸¦ ½Å¼ÓÇÏ°í öÀúÇÏ°Ô È®ÀÎÇÕ´Ï´Ù.
- ¿À¿°ÇÏ´Â ¹°Áú Á¾·ù ¹× »ç°Ç (¼Ò½º) È®ÀÎ
- À§Ä¡¿Í ½Ã°£¿¡ µû¸¥ AMC ¹× SMC ·¹º§ ÃøÁ¤
- ÈÇÐÀû ÇÊÅÍÀÇ »çÈÄ ºÐ¼®
Á¦Ç° °ËÁõ
- ºÐ¼®±âÀÇ Á¤È®¼º°ú ±â´É¼ºÀ» °ËÁõÇÏ¿© ½Å·Ú¼º ±¸Ãà
- ¼ºñ½º¸¦ Á¦°øÇϱâ Àü¿¡ °í°´ÀÇ µ¿ÀÇ¿¡ µû¶ó Å×½ºÆ® ¹æ¹ý°ú ±â¼úÀ» °øÀ¯ÇÕ´Ï´Ù.
´ç»çÀÇ ºÐÀÚ ¿À¿° °ü·Ã ¼ºñ½º ºê·Î¼Å ´Ù¿î·Îµå (128.6 KB)
´ç»çÀÇ ¼ºñ½º¿¡ °üÇÑ Ãß°¡ Á¤º¸°¡ ÇÊ¿äÇÑ °æ¿ì, ¿¬¶ôó:
Aaron Shupp
ashupp@pmeasuring.com
ÀüÈ: (303) 443-7100 ext. 454
¹«·á ÀüÈ: (800) 238-1801
© 2002-2008 Particle Measuring Systems, Inc.
ÀÌ À¥»çÀÌÆ®ÀÇ Á¤º¸´Â ¿¹°í¾øÀÌ º¯°æµÉ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.
