¹Ì¼¼ÀÔÀÚ ¿À¿° ¸ð´ÏÅ͸µ ¼­ºñ½º

´ç»çÀÇ ¼­ºñ½º Àü¹®±â»ç°¡ °í°´À» À§ÇØ ¸ð´ÏÅ͸µÀ» ÇÒ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.

ÀÔÀÚ ¹× ºÐÀÚ ¿À¿°À» Á¦°ÅÇÏ´Â °ÍÀº ½Ã°£ÀÌ ¸¹ÀÌ µå´Â ÀÛ¾÷ÀÔ´Ï´Ù. ÀúÈñ Particle Measuring Systems´Â ÀÌ¿¡ µµ¿òÀ» ÁÖ´Â ¿Ïº®ÇÑ Å×½ºÆ®, ±³À° ¹× ÀÚ¹® ¼­ºñ½º ¶óÀÎÀ» Á¦°øÇÕ´Ï´Ù. ¿À¿° ¼Ò½º¸¦ ã°Å³ª °øÁ¤ÀÇ Æ¯¼º ºÐ¼® ¶Ç´Â Å©¸°·ëÀ» ¸ð´ÏÅ͸µÇÒ ¶§ ´ç»çÀÇ Àü¹®Áö½Ä°ú ¸ðµç Àåºñ¸¦ ½Å·ÚÇϽñ⠹ٶø´Ï´Ù.

30³â ÀÌ»óÀÇ °æÇè°ú Àü¹® Áö½ÄÀ» °®°í ÀÖ´Â ÀúÈñ´Â ¹Ì¼¼ÀÔÀÚ ¿À¿° ¸ð´ÏÅ͸µ ºÐ¾ß¿¡¼­ ¼¼°èÀûÀÎ ¸®´õ·Î¼­ÀÇ ÁöÀ§¸¦ °¡Áö°í ÀÖ½À´Ï´Ù. ÀúÈñ´Â ·¹ÀÌÀú ±â¹ÝÀÇ ÀÔÀÚ °è¼ö ±â¼ú ¹ß¸íÀڷμ­ °¡Àå ¿Ïº®ÇÑ Á¦Ç°±º°ú ¼­ºñ½º¸¦ Á¦°øÇÒ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.

´ç»çÀÇ ¼­ºñ½º¿¡ ´ëÇØ ´õ ¸¹Àº Á¤º¸°¡ ÇÊ¿äÇÏ½Ã¸é ¾Æ·¡ÀÇ ¾Æ¹« Ç×À̳ª Ŭ¸¯ÇϽʽÿÀ:

• ½ÇÇè½Ç Å×½ºÆ®
• »çÀÌÆ® Å×½ºÆ® / ¹®Á¦ ÇØ°á
• ±³À°
• AMC Å×½ºÆ®
• ¼³Ä¡ / °ËÁõ