Particle Measuring Systems'ÀÇ ÃֽаøÁß ºÐÀÚ ¿À¿°(AMC) ¸ð´ÏÅÍ, AirSentry II´Â ¼º´ÉÀ» °í·ÁÇÏ¿© ¼³°èµÇ¾ú½À´Ï´Ù. »õ·Î¿î À̿ À̵¿ ½ºÆåÆ®·Î¸ÞÆ®¸®(IMS) ¼¿Àº ppt °¨µµ, ºü¸¥ ¹ÝÀÀ ¹× Çâ»óµÈ ¼±ÅüºÀ» Á¦°øÇÕ´Ï´Ù. Áß¿äÇÑ ¸ð´ÏÅ͸µ Æ÷ÀÎÆ®ÀÇ Áö¼ÓÀûÀÎ Ä¿¹ö¸®Áö ¹× Áß¾Ó ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Ç÷§ÆûÀ¸·Î ½¬¿î µ¥ÀÌÅÍ ½Àµæ ¹× ºÐ¼®ÀÌ °¡´ÉÇÕ´Ï´Ù.
°ßÀû ¶Ç´Â ÀÚ¼¼ÇÑ Á¤º¸¸¦ À§ÇØ ÀúÈñ°Ô ¿¬¶ôÇϽʽÿÀ.
![]() | ||
ÀÚ¼¼ÇÑ Á¤º¸°¡ ÇÊ¿äÇϰųª Áú¹®ÀÌ ÀÖÀ¸¸é ÀúÈñ¿¡°Ô ¿¬¶ôÇϽʽÿÀ.
ÀúÈñÀÇ ¸¶ÀÌÅ©·Î¿À¿° ¸ð´ÏÅ͸µ ¼ºñ½º¿¡ ´ëÇÏ¿© º¸´Ù ¸¹ÀÌ ¹è¿ì½Ê½Ã¿À.
AirSentry®´Â Particle Measuring SystemsÀÇ µî·Ï »óÇ¥ÀÔ´Ï´Ù.
ÀÌ À¥»çÀÌÆ®ÀÇ Á¤º¸´Â ¿¹°í¾øÀÌ º¯°æµÉ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.