¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î
SamplerSight ÀÔÀÚ ¸ð´ÏÅ͸µ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î
È÷½ºÅä±×·¥, ŸÀÔ ÇÃ·Ô ¹× Ç¥ µ¥ÀÌÅͰ¡ ¼ö·ÏµÈ ¹èÄ¡ ±â¹ÝÀÇ ¾×ü ÀÔü °è¼ö ½Ã½ºÅÛ Á¤º¸¿¡ ´ëÇÑ Á¾ÇÕÀûÀÎ °³°ü Á¦°ø
¼³ºñ ¸ð´ÏÅ͸µ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Facilty Net
Facility NetÀº Á¦Á¶ ¼³ºñ¿¡¼ ȯ°æ°ú °øÁ¤ ¸ð´ÏÅ͸µ Á¶°ÇÀÇ Á¾ÇÕÀûÀÎ °üÂûÀ» Á¦°øÇÏ´Â °·ÂÇÑ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î ÇÁ·Î±×·¥ÀÔ´Ï´Ù. ÀÌ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î´Â ¸ð´ÏÅ͸µ Àåºñ ³×Æ®¿öÅ©¿¡¼ µ¥ÀÌÅ͸¦ ¼öÁýÇÏ°í µð½ºÇ÷¹ÀÌÇÏ°í ºÐ¼®Çϰí ÀúÀåÇÏ°í º¸°íÇÒ ¼ö ÀÖ°Ô ÇÕ´Ï´Ù.
© 2002-2008 Particle Measuring Systems, Inc.
ÀÌ À¥»çÀÌÆ®ÀÇ Á¤º¸´Â ¿¹°í¾øÀÌ º¯°æµÉ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.