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귀하의 어플리케이션을 위한 제품과 당사 전문가들이 작성한 관련 논문들을 하단에서 만나보세요

관련 지식 및 자료

ISO 14644 개정안 요약

지난 5년 간 ISO 기술 위원회209는 기초 공기청정 분류 개정에 힘썼습니다. 14644-1과 14644-2는 하단 항목을 명확하게 합니다.

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NanoVision Technology®가 높은 분자 산란을 가능케 한다

반도체 제조는 극히 순수한 화학적 성질을 활용합니다. 그것은 흔히 중요한 분자 산란 요소를 가지고 있습니다. 이렇듯 높은 분자 산란은 오래된 파티클 계측 기술의 신호대잡음비율을 감소시킵니다.

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파티클 기술에 대한 초급 가이드

파티클의 3가지 유형에 대해 알고 계십니까?

파티클 기술에 대한 초보자용 가이드를 통해서 귀하는 비 생존 유기체, 생존 유기체와 무기물 파티클에 대해 배울 수 있습니다.

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Ultra DI20을 사용하여 UPW 시스템 모니터링

지속적인 과정 및 장비 발전을 통해서, 반도체 제조사들은 14nm 배선폭에 접근했으며 심지어 더 작은 크기에 접근하고 있습니다.

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제품

Chem 20™ 케미컬 파티클 카운터

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신규 출시된 Chem 20은 20nm 파티클을 측정할 수 있는 세계 최초 20nm의 케미컬 파티클 카운터 입니다.

Surfex® 테스팅 스테이션

Surfex® 테스팅 스테이션

Surfex® 테스팅 스테이션은 거의 모든 유형의 복잡한 형태의 부품 재사용을 위해, 세정후 파티클 레벨을 측정하는 완전 자동화 파티클 측정 장비 입니다.

AirSentry® II 모바일 AMC 감지 시스템

AirSentry® II 모바일 AMC 감지 시스템

고정형 AMC 모니터링 프로그램의 성능을 향상시키기 위해 설계된 AirSentry II 모바일 AMC 감지 시스템은 진정한 첫 번째 모바일 시스템입니다.

Nano-ID® NPC10 나노 파티클 카운터

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Nano-ID NPC10 파티클 카운터는 Ultra Clean환경용으로 개발된 첫 번째 응축 파티클 카운터입니다.

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