Âü°í

ÀúÈñ Particle Measuring Systems´Â 30³â ÀÌ»ó ÀÔÀÚ °è¼ö±â¸¦ ¼³°èÇÏ°í Á¦ÀÛÇØ ¿ÔÀ¸¸ç ¹ÝµµÃ¼¿Í Á¦¾à, ±×¸®°í µ¥ÀÌÅÍ ÀúÀå ºÐ¾ß¿¡¼­ Áß¿äÇÑ Àåºñ¸¦ °³¹ßÇÏ¿´½À´Ï´Ù.

ÀÌ·¯ÇÑ ¿À·£ °æÇè°ú ´ç»ç Á¦Ç°ÀÌ °®°í ÀÖ´Â ¿ì¼öÇÑ ¼º´É°ú Ç°Áú·Î ÀÎÇØ ÀúÈñ´Â ÀÌ ºÐ¾ß¿¡¼­ ÃÖ°íÀÇ ¸í¼ºÀ» ´©¸®°í ÀÖ½À´Ï´Ù.

ÀúÈñ¿Í ¾ÆÁ÷ ÇÔ²² ÀÏÇØ º¸Áö ¾ÊÀº °í°´µé¿¡°Ô ÀÌ Âü°í ÀڷḦ Á¦°øÇÒ ¼ö À־ ±â»Ú°Ô »ý°¢ÇÕ´Ï´Ù. ÀúÈñ´Â ¸î ³âÀÌ Áö³­ Âü°í ÀڷẸ´Ù ÇöÀç ÀúÈñ °í°´ÀÌ Á÷Á¢ º¸³½ ÀÇ°ßÀ» ´õ ¼ÒÁßÇÏ°Ô »ý°¢ÇÏ°í ÀÖ½À´Ï´Ù.