 |
ÀúÈñÀÇ Àü¹®°¡µéÀº °í°´ÀÇ Áú¹®¿¡ ´ë´äÀ» µå¸³´Ï´Ù. Áú¹®À» º¸³»½Ã¸é Àü¹®°¡°¡ Á÷Á¢ °í°´¿¡°Ô ÀÀ´äÇÕ´Ï´Ù. ¶ÇÇÑ ±ÍÇÏÀÇ ¿ëµµ¿¡ µû¶ó Áú¹® ¹× ´ë´ä ¶óÀ̺귯¸®¸¦ ÀÐÀ» ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.
ÃÖ±Ù Áú¹®: ÁøÇàÁßÀÎ Á¤±âÀûÀÎ ÀÔÀÚ °è¼ö Å×½ºÆ®¸¦ À§ÇØ ÁöÁ¡ÀÌ ¾ó¸¶³ª ÇÊ¿äÇմϱî?
ÀúÈñÀÇ À¥»çÀÌÆ®¿¡¼ ´ë´äÀ» ÀÐÀ¸½Ê½Ã¿À.
|
Áú¹®ÀÌ Àְųª Á¦Ç°¿¡ ´ëÇÑ °ßÀû°ú Áö¿øÀÌ ÇÊ¿äÇÏ¸é ¿¬¶ôÇϽʽÿÀ. ±ÍÇÏ´Â ÇöÀç "Á¦¾à¿ë" ´º½º·¹Å͸¦ ¼ö½ÅÇϰí ÀÖ½À´Ï´Ù, ´Ù¸¥ ƯÁ¤ ¸ð´ÏÅ͸µ ´º½º·¹ÅÍ(ÀϹÝ, °øÁß, ¶Ç´Â ºÐÀÚ)¸¦ ¹Þ°í ½ÍÀ¸¸é ¿Â¶óÀÎÀ¸·Î ½ÅûÇϽʽÿÀ.
Kenichi Takashima
Particle Measuring Systems,
Tokyo
813-5298-8175
ktakashima@jp-pmeasuring.com
-----------------------------------------
Particle Measuring SystemsÀº ¹Ì¼¼¿À¿° ¸ð´ÏÅ͸µ¿¡ ÀÖ¾î¼ ¼¼°èÀûÀÎ ¼±µÎÁÖÀڷμ Áö³ 35³â°£ ÀÔÀÚ °è¼ö±âÀÇ °è¹ß°ú »ý»ê¿¡ Èû½á¿Ô½À´Ï´Ù.
-----------------------------------------