SUBJECT: 입자 계수 업데이트
분자 계수 시스템이 신뢰할 수 있는 데이터를 제공하고 결과를 제대로 해석한다고 믿습니까? 업계 최신 정보와 제품에 관하여 계속 읽으십시오.
주제
백서
저희의 사내 전문가가 작성한 백서의 온라인 라이브러리는 입자 계수에 관하여 빠르게 배울 수 있고 언제든 이용가능하기 때문에 매우 인기가 있습니다. 귀하의 용도에 도움이 되는지 검토해보십시오. 저희 최근 백서는 다음과 같습니다:
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ISO 14644-1 크린룸 인증, 2007 업데이트를 위한 입자 계수기 선택하기
입자 계수기 구입을 고려할 때, 사용자는 전형적으로 가격, 품질, 레이저 수명, 보증 및 서비스 같은 요소를 고려합니다. 이 문서는 다음과 같은 경우에도 반드시 고려할 성능 관련 요소를 논합니다. 더 많이 배우십시오... |
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제약용 크린룸에서의 입자 모니터링 요구조건
이 문서는, 크린 제조 환경을 정의하고 하나의 환경에서 오염 제어 방법을 보여주면서, 의약품 제조의 다양한 마이크로오염 요구조건을 검토합니다. 더 많이 배우십시오... |
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석판술을 위한 최적의 분자 오염 모니터링
이 논문은 Solid State Technology, 2007년 12월호에 발표될 예정입니다.
최근의 기술 발전은 샘플 튜빙 효과를 최소화 하면서 감도와 안정성의 중대한 발전으로 지속적인 실시간 모니터링 수행의 가능성을 열여 줬습니다. 더 많이 배우십시오...
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액체 입자 계수 고려사항
이 문서는 액체 입자 계수의 몇 가지 기본을 다룹니다. 이것은 입자 계수기를 현재 사용하는 산업에서의 예를 제공하면서 시작하고 기타 분야에서 어떻게 사용될 수 있는지를 제시합니다. 또한 광학 입자 계수기(OPC)를 이용하는 이점과 샘플량 및 감도의 고려사항을 여기서 논합니다. 더 많이 배우십시오... |
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업데이트 문서: 입자 사이징 정확도 계산기
PSL 평균 사이즈와 해상도를 입력하십시오. 이 프로그램은 LiQuilaz 입자 계수기를 위한 상대 사이즈 오류를 계산합니다. 더 많이 배우십시오... |
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새로운 문서: LiQuilaz 입자 계수기의 작동을 검증하기 위한 계수 기준
용적 체적측정 광학 입자 계수기(OPC)의 작동을 검증하는 것은 많은 용도에서 필요합니다. 이 문서는 LiQuilaz-S 또는 E 유형 OPC의 작동을 검사하기 위한 계수 기준의 적합한 이용을 설명합니다. 더 많이 배우십시오... |
웹캐스트: ITRS 로드맵
제품 정보
분자 오염 모니터
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AirSentry II AMC 모니터
AirSentry II는 70ppt까지의 감지 한계를 갖은 저비용 지속적인AMC 모니터입니다. 실시간 분석기에서 동급 최고 감지 한계는 가장 중요한 크린 환경에서 필요한 단기간 발생 모니터링과 장기간 AMC 트렌드를 가능하게 합니다. 더 많이 배우십시오... |
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AirSentry II 분석기를 위한 조정 스테이션
Particle Measuring Systems의 조정 스테이션은 NIST 추적가능한 삼투 튜브를 이용하여 AirSentry II 분석기를 조정하는 편리한 방법을 제공합니다. 더 많이 배우십시오...
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공기 입자 계수기
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HandiLaz Mini
이 휴대용 입자 계수기는, 10,000 샘플까지 저장하면서, 0.1 피트 3/분(2.83 리터/분.)에서 0.3 마이크론까지 모니터합니다. ISO 크린룸 인증, USP 797 준수, 지역 소스 감지 등을 위해 이상적입니다. 더 많이 배우십시오... |
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에어로솔 입자 계수기 액세서리: HPD III
고압 디퓨저는, 크린 드라이 에어(CDA), 아르곤 그리고 질소 같은 드라이, 비활성, 비독성, 불연성 가스의 압력을 대기압에서 작동하도록 설계된 입자 계수기에 허용된 수준으로 줄여줍니다. 더 많이 배우십시오...
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액체 입자 계수기
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DI 워터 레이저 입자 계수기: Ultra DI 50
Ultra DI 입자모니터는 특히 탈이온(DI) 수 시스템을 위해 개발되었으며 0.03마이크론까지 작은 오염원을 계수하고 크기를 잽니다. Ultra DI의 대용량 샘플, 낮은 제로 계수, 그리고 고계수 효율은 능가할 수 없는 수행을 제공합니다. 더 많이 배우십시오... |
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LiQuilaz 액체 입자 계수기
LiQuilaz 광학 입자 계수기는 0.2 마이크론까지 다양한 사이징 감도의 용적측정 계수기입니다. 이 제품들은 150°C까지의 플루오르수소산과 고열 부식 화학물질을 포함하여 대부부의 공정 화학물질들의 고정밀 분석을 제공합니다. 더 많이 배우십시오...
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입자 대학 2008
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저희는 두 개의 클래스를 콜로라도주 Boulder에서 2월과 8월에 엽니다. 내년에 열리는 이 인기있는 클래스에 지금 계획하여 참가하십시오. 우리의 웹사이트에 등록을합니다.
코스 일정은 다음을 포함합니다:
- 입자 물리학
- 입자 메커니즘
- 입자 계수기 기초
- 공기 입자 모니터링 소개
- 고급 공기 모니터링
- 분자 오염 소개
- 고급 분자 오염
- 액체 입자 계수 소개
- 부품 청결도 테스팅
- 고급 액체 입자 계수
- GAMP 및 USP 규제 요구조건
- 제약용 액체 모니터링
- 여과
- 데먼스트레이션 스테이션:
- 입자 계수기 측정
- CLS 700 액체 샘플러 및 SamplerSight 소프트웨어
- 액체 입자 계수의 통계적 데이터 계산
- 최소 환경 모니터링
- 크린룸 인증 및 제품
- 주입가능물질에서 입자 모니터링
- AMC 모니터링 및 측정
- 설비 모니터링 시스템(FMS)
http://www.pmeasuring.com/kr/services/college에서 배우십시오.
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자주 묻는 질문
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저희의 전문가들은 고객의 질문에 대답을 드립니다. 질문을 보내시면 전문가가 직접 고객에게 응답합니다. 또한 귀하의 용도에 따라 질문 및 대답 라이브러리를 읽을 수 있습니다.
최근 질문: HVAC 시스템을 위해 요구되는 인증 주기는 어떻습니까?
저희의 웹사이트에서 대답을 읽으십시오.
최근 질문: 일단 입자 계수기기 연결되면 계수기가 안정화되는데 걸리는 시간은?
저희의 웹사이트에서 대답을 읽으십시오.
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제품에 관한 질문, 견적 및 지원이 필요하신 경우에는 저희에게 연락주십시오. 저희가 발행하는 최근의 정보 자료(제약용, 공기, 일반 또는 분자)를 받기 원하시는 경우에는 온라인상에서 신청하여 주십시오.
Kenichi Takashima
Particle Measuring Systems,
Tokyo
813-5298-8175
ktakashima@jp-pmeasuring.com
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Particle Measuring Systems은 미세오염 모니터링에 있어서 세계적인 선두주자로서 지난 35년간 입자 계수기의 계발과 생산에 힘써왔습니다.
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