Particle Measuring Systems 특허 표시:

다음 Particle Measuring Systems 제품은 미국 및 기타 지역에서 특허권에 의한 보호를 받습니다. 이 웹사이트는 미국 개정특허법(America Invents Act) (35 U.S.C. § 287(a))의 가상 특허 표시 규정을 포함하여 여러 관할권의 가상 특허 표시 규정을 이행하기 위해 제공됩니다.


다음 Particle Measuring Systems 제품 목록에 보호받는 모든 제품이 망라되지 않을 수 있으며 이 목록에 없는 다른 Particle Measuring Systems 제품도 하나 이상의 특허권에 의한 보호를 받을 수 있습니다.

 

AiM®: Protected by Patents US7235214B2, US2004214334A1, US7208123B2, GB2390161B, JP2004069686A, JP4283047B2, DE10328366A1, US6945090B2, GB2390162B, JP2004029022A, DE10328367A1. Additional patents may be pending in the U.S. and elsewhere.

 

Airnet®: Protected by Patents US8800383B2, WO2011025763A1, JP2013502596A, JP5574250B2, EP2470876A4, CN102625909B, US7088447B1. Additional patents may be pending in the U.S. and elsewhere.

Airsentry®: Protected by Patents US7985949B2, WO2009018305A1, US2009078862A1, JP2010535345A, JP5617633B2, CN102318035B, EP0995101B1. Additional patents may be pending in the U.S. and elsewhere.

IsoAir®: Protected by Patents US6167107A, JP2004045419A, EP1196832A2, EP1271126A3, WO0106333A3, JP2003505671A, JP3559782A2, DE60005518T2. Additional patents may be pending in the U.S. and elsewhere.

Lasair®: Protected by Patents US7,796,255B2, US2008246965A1, WO2008118769A1, JP2010522333A, US7576857, US6859277B2, GB2392494A, US2004042008A1, JP2004085573A, JP4607437B2, DE10338256A1, JP2009276361A, US6,167,107, JP2004045419, EP1196832, EP1271126, WO0106333, JP2003505671, JP3559782, DE60005518. Additional patents may be pending in the U.S. and elsewhere.

Liquistat®: Protected by Patents US5861950A, WO9902966A1, DE69801825T2, JP2000512390A, JP3335645B2, WO2009073652A1, US2009244536A1, US8154724B2, JP2013083656A, JP5610167B2, JP2011505578A, JP5478501B2, JP2011505577A, JP5324598B2, EP2232231A1, EP2232229A4, CN101925809B, CN101910821B, US6859277B2, GB2392494A, US2004042008A1, JP2004085573A, JP4607437B2, DE10338256A1, JP2009276361A. Additional patents may be pending in the U.S. and elsewhere.

MiniNet®: Protected by Patents US6615679B1, WO0213943A2, GB2382139B, JP2007192829A, DE10196505T5, JP2004506222A, AU8117501A. Additional patents may be pending in the U.S. and elsewhere.

Rnet®: Protected by Patent US7088447. Additional patents may be pending in the U.S. and elsewhere.

Ultra DI®: Protected by Patents US6859277B2, GB2392494A, US2004042008A1, JP2004085573A, JP4607437B2, DE10338256A1, JP2009276361A. Additional patents may be pending in the U.S. and elsewhere.

UltraChem®: Protected by Patents US7916293B2, US2009219530A1, WO2009073649A1, US2012140223A1, US8427642B2, US2012012757A1, US8174697B2, US2011155927A1, US8027035B2. Additional patents may be pending in the U.S. and elsewhere.

Particle Measuring Systems 상표

다음은 미국 및 기타 국가에서 Particle Measuring Systems 또는 자회사가 소유한 등록된 상표, 미등록된 상표 및 서비스 표장입니다. 이 목록상의 상표와 관련하여 문의사항이 있을 경우 copyright@pmeasuring.com으로 이메일을 보내주시기 바랍니다.


상표 또는 서비스 표장이 이 목록에 없다 할지라도 Particle Measuring Systems 상표 또는 해당 상표 또는 서비스 표장과 관련한 다른 지적재산권을 포기하는 것으로 간주하지 않습니다.

 

AiM®
Air Trace ®
Airnet®
Airsentry – IMS®
AirSentry®
Ascotec®
BioCapt®
BioLaz®
ENODE®
FacilityPro®
FacilitySight®
HandiLaz®
Ionpro-IMS®
IsoAir®
Lasair®
LiQuilaz®
Liquistat®
MicroSafe® (Registered in Italy)
MiniCapt®
MiniNet®
Nano-ID®
NanoVision Technology®
Particle College®
Particle Measuring Systems®
Prosentry-IMS®
Rnet®
Stackmaster -IMS®
Surfex®
SHUR-SHOT®
SLURRYCHEK® (Registered in China)
STERISAFE® (Registered in Italy)
ULTRAAIR® (Registered in China)
Ultra Di®
UltraChem®
Vaculaz®

 

다음은 Particle Measuring Systems Inc.의 등록된 상표입니다.

HPD III™
PME Driver™
Particle Measuring Systems™ (Pending in Europe)
Particle College™ (Pending in Japan, China and Korea)
SurCapt™
BioCapt™ (Pending in US)
Particle Matters™
Measuring what matters™
Without Measurement, There is No Control™