一点集中型IMS分析: AirSentry II

パーティクル・メジャーリング・システムズ社の 新型気中分子状汚染（AMC）分析装置、 AirSentry IIは、現場で要求される「性能」を重視して設計されました。改善が加えられた新しいイオン・モビリティー分光技術（IMS）は、pptレベルの分解能、高速反応、高感度（リアルタイム70ppt）の分析を可能にしました。また、中央集中型のプラットフォーム・ソフトウェア（日本語対応版）により、Critical Monitoring(モニタリングを重要視される)点での継続的な詳細検出結果の一括制御、一括管理を実現しました。

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