気中パーティクル カウンタ:LASAIR II 110

弊社のLASAIR II 110レーザー微粒子モニターは、0.1ミクロン微粒子を計測できる、新登場の1.0 CFM レーザー・ダイオードユニット。ずば抜けた精度、運用経費削減、信頼性および、3年間のレーザー保証を提供する長寿命など、ありったけの機能を揃えた自信作です。 0.1ミクロンの粒子を検出できる他の1CFMの微粒子測定器は全て、時間の経過と共にレーザー部が汚染されてしまいます。 この汚染は、レーザーのパワーを減少させ、システムの感度と精度を損ないます。 レーザのパワーを回復するには、訓練された技術者によるレーザー光学部の頻繁なクリーニングが必要となります。 レーザ部とそれに関連する問題は、Lasair II 110機種のダイオードレーザーを使用することによって、排除できます。また、ダイオードレーザの予想寿命は長いため、停止時間と修理費用の削減が可能です。

気中パーティクル カウンタ: LASAIR II 110

Lasair II 110仕様書 (215.9 KB)

利点
  • 欠陥の削減:
  • 欠陥を起こす微粒子のリアルタイムの測定
  • ポータブル微粒子測定器として使用、微粒子源を特定可能
  • マニホールド型測定で起こる従来のエラーを排除
  • 多用途でのモニタリングに使える各種付属品
  • 従来の機器より0.1ミクロン緻密な微粒子検出
  • 生産性向上:
  • レシピの保存/再ロードにより、クリーンルーム検証間の時間短縮
  • インターネットのブラウザを使ってお使いのPCからクリーンルーム微粒子モニタリング制御:設定、測定、表示、印刷、ファームウェア更新、データ・ダウンロード、サンプル・レシピ・アップロード等
  • 音が静かな操作で職場環境の向上
  • 9ヶ国語で表示と印刷
  • ISO、FS、または英国規準用計測と報告
  • 包括的データ管理のためにFacility Netと 連結
  • Excel、PDA、USBフラッシュメモリーへのデータ高速ダウンロード
  • 高い費用効率:
  • コスト高なレーザークリーニングを最小限に
  • 長寿命のポンプにより羽板の定期交換を排除
  • 簡単なクリーニング/ふき取り;微粒子付着を最小限に抑える設計
  • 丈夫で化学薬品に対する耐性あり、ESA/ESD対応、手入れが簡単な表示スクリーンと KYDEX® 外装
  • 長寿命の低熱ダイオードレーザーは3年保証付き
用途
  • クラス1からクラス10,000までのクリーンルーム監視
  • 高精度の用途
  • ISO、FS、、英国規準への工場認定
  • ミニエンバイロメント認定
  • トラブルシューティング/ポータブル用
  • マニホールド測定(エアロゾルManifold II使用)
  • 処理ガス監視(高圧ディフューザー使用)
  • 超清浄区域(ISO 1-2)
  • 同じパーティクル カウンタをISOクラス1〜9の用途に使用(クラス8&9にはエアロゾル希釈装置が必要)

「エアロゾル パーティクル カウンタの選択」 (360.5 KB)

「微粒子測定の基礎知識」 (441.3 KB)

「2005年半導体国際エディターズ チョイス賞」受賞

この気中パーティクル カウンタはCE認定を受けています。

LASAIR®はParticle Measuring Systemsの登録商標です。

米国特許取得および出願中−米国4798465;日本2786187;ドイツ3712665C2;米国6167107;日本3559782;ドイツ60005581.3;米国6859277;外国特許出願中

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