パーティクルカウンタの選択に不安をお持ちですか？お使いの微粒子測定システムが、結果を正確に把握するために必要な『信頼できるデータ』を提供しているかどうか不安ですか？液中微粒子に関する最新の情報と製品をご覧下さい。 トピックス 技術資料 マイクロエレクトロニクスにおける超純水の微粒子モニタリング 最新版：微粒子測定の基本ガイド 書籍：液中パーティクルカウンタを理解する 書籍：シリコンウエハーと洗浄技術のハンドブック ウェブキャスト：ITRSロードマップ 製品情報 Ultra DI 50パーティクルカウンタ 注射剤用APSS 200パーティクルカウンタ Surfex：新しい卓上パーツ清浄度検査ステーション 気中パーティクルカウンタLasair II 110 よくある質問（FAQ） 技術資料 当社のオンラインライブラリーにある資料は当社のエキスパートにより作成されており、液中微粒子モニタリングについて学ぶには最も手っ取り早く、24時間常に閲覧できるので、大変好評です。必ずご覧になり、ご所有の機器やアプリケーションに関するサポート情報をご確認下さい。最新かつ最も好評な資料は: マイクロエレクトロニクスにおける超純水の微粒子モニタリング このプレゼンテーションでは、微粒子モニタリングの重要性、パーティクルカウンタの選び方、パーティクルカウンタによるデータの解釈方法について説明します。続きを読む・・・ 微粒子測定の基本ガイド：最新版！ 当社では最近、この微粒子汚染の概要を更新いたしました。汚染源と現在の監視技術に関する話題から始まり、様々な・・・好評なこの資料を今すぐダウンロード！ 書籍：液中パーティクルカウンタを理解する 本書は、パーティクルカウンタの役割とデータの解読・解釈方法を分かりやすく説明しています。最新グラフや図を多く盛り込み、分かりやすく解説しています。本書を今すぐ購入！ 書籍：シリコンウエハーと洗浄技術のハンドブック 『シリコンウエハー洗浄技術ハンドブック』の第二版は、集積回路メーカーで使われているウェット、プラズマ、その他の表面洗浄テクニックに関する資料を集約したものです。洗浄工程の製造工程への統合は、熱処理、埋め込み、エッチング、フォトリソグラフィなど、他の工程への応用も紹介されています。『微粒子汚染物質の検出と測定』章では、Particle Measuring Systemsのエド・テレル（Ed Terrell）が共同執筆しています。 詳細と本書のご購入に関する詳細は、http://www.williamandrew.com/title.php?id=20をご参照ください。 ウェブキャスト：ITRSロードマップ Particle Measuring SystemsはITRSロードマップ（ITRS Roadmap）におけるウェブキャストのスポンサーを務めました。http://www.semiconductor.net/webcastsDetail/2140132136.htmlより録画画像をご覧いただけます。 製品情報 Ultra DI 50パーティクルカウンタ このパーティクルカウンタはITRSロードマップ（国際半導体技術ロードマップ）に準拠しており、DI水を50ナノの感度で測定し、試料量は3.75ml/minを誇ります。この製品を今すぐ確認、または、液中パーティクルカウンタの類似製品と比較してみてください。 注射剤用APSS 200パーティクルカウンタ このパーティクルカウンタは注射剤の検査に用いられ、USP788、EP、JP規格に準拠しています。続きを読む・・・ 新しい卓上パーツ清浄度検査ステーション Surfex 100M卓上モニタは、パーツ（部品）のモニタリングと清浄度を検査するためのコンパクトに統合された微粒子抽出システムです。超音波抽出、微粒子測定、高純度流体工学を統合することにより、Surfex 100Mは従来の検査方法よりも最大で10倍の検査処理能力を発揮し、時間の短縮とコストの削減を実現します。続きを読む・・・ 気中パーティクルカウンタLasair II 110 この1CFMユニットは0.1ミクロンの微粒子も測定可能な、今日存在する機能を盛り込んだ最新鋭の総合ユニットです。ずば抜けた精度を誇り、運用コストの削減を実現、そして信頼性と3年間のレーザー寿命保証という点においても他に並ぶものがありません。続きを読む・・・ よくある質問（FAQ） 当社のエキスパートがあなたの質問にお答えしますので、ご質問を送信してください。当社エキスパートが直接回答いたします。もしくはFAQsを参照してください。問題解決につながるかもしれません。 最近の質問：標準的な微粒子分布とはどのようなものですか？ 回答は当社ウェブサイトでご確認ください。 ご質問、お見積もり、製品サポートに関しては私にお問い合わせください。 Kenichi Takashima Particle Measuring Systems, Tokyo 813-5298-8175 ktakashima@jp-pmeasuring.com ----------------------------------------- 現在は『液中』ニュースレターをご購読いただいておりますが、他のモニタリングに関するニュースレター（一般、気中、分子、製薬）もございます。ご購読を希望される場合はオンラインサインアップを行ってください。 ----------------------------------------- Particle Measuring Systemsは微粒子計の開発・製造において35年の経験をもつ微小汚染測定の世界的リーダーです。 -----------------------------------------