御社の微粒子測定システムによるデータが信頼できるデータであり、正確に結果を解析できているという自信がありますか？最新の業界情報と製品をご覧ください。

トピックス

資料

当社のオンラインライブラリーにある資料は当社のエキスパートにより作成されており、液中微粒子モニタリングについて学ぶには最も手っ取り早く、24時間常に閲覧できるので、大変好評です。必ずご覧になり、ご所有の機器やアプリケーションに関するサポート情報をご確認下さい。最新かつ最も好評な資料は:

2007年更新ISO14644-1クリーンルーム空気清浄度クラス基準に適正なパーティクルカウンタを選ぶ
パーティクルカウンタの購入を検討する場合、ユーザーは、価格、品質、レーザー寿命、保証、サービスなどを考慮します。本資料では、パフォーマンスに関して考慮しなければならない点について紹介しています・・・ 詳細を見る・・・
製薬クリーンルームにおける微粒子監視基準
本資料では、製薬生産における様々な超微粒子汚染に関する概要を紹介し、クリーンな生産環境を定義し、生産現場の汚染管理を向上させる方法をご紹介しています。詳細を見る・・・

リソグラフィ用に分子汚染モニタリングを最適化
この技術資料はSolid State Technology 2007年12月号に掲載されます。
最新の技術革新により、試料管による影響を最小限に抑え、感度と安定性の向上を実現。継続的なリアルタイムモニタリングが可能となりました。詳細を見る・・・

液中微粒子測定について考える
本資料では、液中微粒子測定に関する数々の基本的な事柄についてご紹介いたします。実際にパーティクルカウンタを使用している企業を例として取り上げ、他の作業エリアへどのように応用できるか、その方法をご紹介いたします。さらに、光学パーティクルカウンタ（OPC）の利点、試料量と感度についても触れています。詳細を見る・・・
更新済み資料：粒経測定の正確性計算機
PSLの平均粒経と分解能を入力してください。LiQuilazパーティクルカウンタにおける相対的粒径誤差をプログラムが計算します。詳細を見る・・・
新資料：校正用標準液を用いてLiQuilazパーティクルカウンタの動作確認を行う
容積測定光学パーティクルカウンタ（OPC）の動作確認をすることは多くのアプリケーションで必要です。本資料では、LiQuilaz(r)-SまたはEタイプOPCの動作確認に用いる校正用標準液の正しい利用方法について説明しています。詳細を見る・・・

ウェブキャスト：ITRSロードマップ

ウェブキャストは2008年1月22日午前10時（PST：太平洋沿岸標準時間）開催予定です。詳細、ご登録については、http://www.semiconductor.net/webcastsDetail/2140132136.htmlをご確認下さい。

製品情報

分子汚染モニタ

AirSentry II 気中分子汚染(AMC)モニタ
AirSentry IIは、検出限界70pptの低価格気中分子汚染モニタです。このクラスでは最も優れた検出限界を誇るリアルタイム分析装置であり、短期間の監視や重要箇所の気中分子汚染推移の長期監視を１台でこなします。詳細を見る・・・

分析装置AirSentry II用較正ステーション
Particle Measuring Systemsの較正ステーションは、NISTトレーサブルな透過管を使用した便利な方法で分析装置AirSentry IIを較正します。詳細を見る・・・ 

気中パーティクル カウンタ

HandiLaz Mini
このハンドヘルド パーティクルカウンタでは、0.3ミクロンまでの微粒子を2.83 L/分の速さで監視し、10,000試料まで保存できます。ISOクリーンルーム空気清浄度クラスやUSP 797の基準をクリアするため、局所粒子源の検知、その他多くの場面で活躍します。詳細を見る・・・

エアロゾル パーティクルカウンタ付属品: HPD III
高圧ディフューザーは、クリーンドライエア(CDA)、アルゴン、窒素などのドライガス、不活性ガス、非毒性ガス、不燃性ガスの圧力をパーティクルカウンタの動作環境として適正な大気圧まで下げます。詳細を見る・・・

液中パーティクル カウンタ

DI水レーザー パーティクル カウンタ: Ultra DI 50
Ultra DI微粒子測定器は超純水(DI)用に設計され、最小可測粒径0.03ミクロンの感度で、微粒子汚染物質を測定します。Ultra DIは全量測定、低ゼロカウント、高計測効率を誇り、抜群の性能を発揮します。詳細を見る・・・

LiQuilaz液中パーティクル カウンタ
LiQuilaz光学微粒子測定器は、最小可測粒径0.2ミクロンからの様々な感度で全量測定を行います。フッ化水素酸や最高150°Cの大半の高温腐食性化学薬品などを高い精度で分析します。詳細を見る・・・

2008年　微粒子カレッジ

当社では、2008年2月と8月、アメリカ、コロラド州ボールダーにて微粒子カレッジの授業を開催する予定です。この人気の高い授業を来年受けてみませんか？詳細とご登録については当社ウェブサイトでご確認下さい。

授業内容：

  • 微粒子物理学
  • 微粒子メカニズム
  • パーティクルカウンタの基本
  • 気中微粒子モニタリングについて
  • 高度な気中モニタリング
  • 分子汚染について
  • 高レベルな分子汚染
  • 高度な分子モニタリング
  • 液中微粒子測定
  • 部品清浄度テスト
  • 高度な液中微粒子測定
  • GAMPおよびUSPの規範について
  • 液体製薬の監視
  • フィルター（ろ過）作用
  • デモンストレーション：
    • パーティクルカウンタの較正
    • CLS700液体サンプラーとSamplerSightソフトウェア
    • 液中微粒子測定における統計データの計算
    • ミニエンバイロンメント モニタリング
    • クリーンルームの承認と製品
    • 注射薬における微粒子の監視
    • AMCモニタリングと較正
    • 施設監視システム（FMS）

詳細はhttp://www.pmeasuring.com/jp/services/collegeをご参照下さい。

よくある質問（FAQ）

当社のエキスパートがあなたの質問にお答えしますので、ご質問を送信してください。当社エキスパートが直接回答いたします。もしくはFAQsを参照してください。問題解決につながるかもしれません。

最近の質問 - HVACシステムの認証周期はどのくらいですか？
回答は当社ウェブサイトでご確認ください。

最近の質問 - パーティクルカウンタを設置してからどのくらいで安定した測定を行えますか？
回答は当社ウェブサイトでご確認ください。

製品全般に関するご質問、お見積もり、サポートに関しては、私までご連絡ください。その他のニュースレター(製薬、気体、全般、分子状汚染)の購読を希望される場合はオンライン登録を行ってください。

高島　研一
Particle Measuring Systems, Tokyo
813-5298-8175
ktakashima@jp-pmeasuring.com

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Particle Measuring Systemsは微粒子計の開発・製造において35年の経験をもつ微小汚染測定の世界的リーダーです。

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