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Spettrometria di mobilità dello ione del punto di utilizzo: AirSentry® II

Nel 2008, il dispositivo AirSentry si è aggiudicato il premio 2008 Editors' Choice Best Product Awards assegnato tutti gli anni dalla Semiconductor International.

Il monitor di ultima generazione per la contaminazione molecolare aerodispersa (AMC) AirSentry® II, prodotto dalla Particle Measuring Systems, è stato progettato per ottenere un prodotto ad alte prestazioni. La nuova cellula basata sulla spettrometria di mobilità dello ione (IMS) fornisce valori di sensibilità espressi in ppt, una risposta rapida e una maggiore selettività. La continua copertura di un punto di monitoraggio critico e una piattaforma software centrale consentono di acquisire e analizzare i dati in maniera semplice.

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 Molecular Contamination Monitor: AirSentry II 
   

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VANTAGGI

  • Monitoraggio continuo di una postazione critica di punti di utilizzo
  • Una singola stazione di calibratura esterna consente di ottenere una corrispondenza tra i vari analizzatori
  • Acquisizione, controllo e analisi di dati efficaci e affidabili
  • Componenti fissi
  • Manutenzione una tantum

APPLICAZIONI

  • Ottica di esposizione - dati di garanzia offuscamento e lenti
  • Fase reticolo - offuscamento reticolo
  • Percorso di resistenza - distribuzione/sviluppo contaminazione (distillazione frazionata a forma di T)
  • Strumenti di controllo e contenitori del reticolo - contaminazione da immagazzinamento
  • Monitoraggio ambientale delle camere bianche - contaminazione di base
  • Composizione e analisi dell'aria di ricircolo - contaminazione

Click here to signup and download files (È possibile scaricare qui la presentazione: Monitor AMC per punti di utilizzo adatto ad un controllo continuo e in tempo reale: AirSentry II)

Click here to signup and download files (Riduzione dei costi di capitale e di manodopera attraverso l'utilizzo del monitoraggio AMC)

Click here to signup and download files (Acido organico di rilevamento con AirSentry II AMC)

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AirSentry® è un marchio depositato della Particle Measuring Systems, Inc.

Non c'è controllo senza misura

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