Contaminación molecular

La división Molecular de Particle Measuring Systems se concentra en el monitoreo de la contaminación molecular de aire y superficie (AMC y SMC). Como pioneros del monitoreo en tiempo real en la industria de los semiconductores, contamos con los recursos y la experiencia para cuantificar satisfactoriamente contaminantes, identificar fuentes y tendencias, y localizar y solucionar problemas. Tenemos una oferta completa de servicios de contaminación molecular para escoger, según sus necesidades.

Inspección del lugar

  • Análisis de ácidos en el aire
  • Análisis de amoníaco y aminas en el aire
  • Análisis de compuestos orgánicos en el aire (hidrocarburos, siloxanos, NMP, etc.)
  • Análisis de condensables de superficie y rastreo de metales

Caracterización de procesos

  • Monitoreo de AMC en tiempo real
  • Monitoreo de SMC en tiempo real
  • Monitoreo de gases de proceso, CDA o eficacia de filtrado
  • Pruebas de desgasado de FOUP, receptáculos de reticulados, etc.

Localización y solución de problemas

  • La localización y solución de problemas por parte de expertos identifica problemas rápida y detalladamente
  • Identifica especies y eventos contaminantes (fuentes)
  • Cuantifica los niveles de AMC y SMC por lugar y tiempo
  • Análisis post mortem de filtrado químico

Validación del producto

  • Valida y establece confianza en la precisión y funcionalidad de los analizadores
  • Los métodos y técnicas de prueba se comparten y acuerdan con el cliente antes del servicio

Para obtener información adicional respecto de nuestros servicios, comuníquese al:

Aaron Shupp
ashupp@pmeasuring.com
Teléfono: (303) 443-7100 ext. 454
Número de llamada gratuita: (800) 238-1801

Documentación Contáctenos Quiénes somos Mapa del sitio Referencias

Sin medición no hay control
© 2002-2008 Particle Measuring Systems, Inc.

La información sobre este sitio web está sujeta a cambios sin aviso previo.

Web Media Engineering - website design Denver Colorado