¿Confía en que su producto está protegido contra los daños costosos que produce la contaminación y que su monitor de contaminación le ofrece datos claros? Los daños y tiempos de inactividad se pueden prevenir fácilmente con un monitoreo continuo, fiable y preciso. Lea a continuación para informarse sobre los recientes avances logrados en el monitoreo de la contaminación molecular.

TEMAS

  • Monitores de contaminación molecular
    • Monitor de contaminación molecular del aire (AMC) AirSentry II
    • Monitor de contaminación molecular de superficie (SMC): AiM-200
  • Difusión web: ITRS Roadmap
  • Documentos técnicos: Monitoreo de la contaminación molecular del aire (AMC) optimizado para litografía
  • Próximas presentaciones
    • Monitoreo continuo de la contaminación molecular para prevenir la descoloración
    • Detección por monitoreo de contaminación molecular del aire (AMC) en partes por trillón
  • Soporte de sistema
  • Servicios de pruebas de inspección in situ
  • Preguntas frecuentes (FAQ)
MONITORES DE CONTAMINACIÓN MOLECULAR
Monitor de contaminación molecular del aire (AMC) AirSentry II
El AirSentry II es un monitor de AMC continuo, de bajo costo, con límites de detección de hasta 70 ppt (partes por millón de millón). Este límite de detección de mayor nivel en un analizador de tiempo real permite monitorear eventos de corto plazo y las tendencias de la contaminación molecular del aire de largo plazo en los entornos limpios más críticos. Continuar para recibir más información...

Monitor de contaminación molecular de superficie (SMC): AiM-200
Monitoree la contaminación molecular utilizando la tecnología de onda acústica de superficie (SAW). Un sensor SAW de alta frecuencia, controlado por temperatura, detecta cambios minúsculos en la masa de superficies críticas, provocado por la acción de contaminantes orgánicos e inorgánicos. Continuar para recibir más información...

DIFUSIÓN WEB: ITRS ROADMAP

Particle Measuring Systems patrocinó la difusión web en el ITRS Roadmap. Para obtener una versión registrada, diríjase a http://www.semiconductor.net/webcastsDetail/2140132136.html

DOCUMENTOS TÉCNICOS

Nuestra biblioteca en línea con los documentos elaborados por nuestros expertos es visitada ampliamente por ser una forma rápida de informarse sobre el monitoreo de la contaminación y estar disponible las 24 horas del día, los 7 días de la semana. Examínela en cualquier momento para encontrar soporte a su aplicación.

Monitoreo de la contaminación molecular del aire (AMC) optimizado para litografía
Los monitores de contaminación molecular, que se basan en la espectrometría de movilidad iónica (IMS), pueden detectar los eventos de contaminación de NH3 y SO2 en tiempo real, así como también proporcionar las tendencias de partes por trillón (ppt) en un promedio de largo plazo... Conozca más...

PRESENTACIONES

En nuestras próximas presentaciones relacionadas con la contaminación molecular, se incluye:

Monitoreo continuo de la contaminación molecular para prevenir la descoloración
Recientes avances técnicos han hecho posible realizar un monitoreo continuo en tiempo real con progresos significativos en la sensibilidad y la estabilidad, al tiempo que se reducen al mínimo los efectos del entubado de muestras. Estas mejoras se observan al utilizar un monitor pequeño de bajo costo, especialmente destinado para monitorear un sólo lugar... Dan Rodier de Particle Measuring Systems presentará este documento técnico en Photomask, Japón 2008 el viernes 18 de abril.

Detección de contaminación molecular del aire en partes por trillón
Se ha presentado un nuevo espectrómetro de movilidad iónica con capacidad para realizar monitoreos en tiempo real en concentraciones de partes por trillón, de herramientas de exposición, unidades de climatización de aire y salas blancas de producción en estas ubicaciones de puntos de uso críticos. Steven Rowley de Particle Measuring Systems se presentará en Advanced Lithography (Litografía avanzada). Planifique su presencia en esta presentación y visítenos en el Puesto 206.

PREGUNTAS FRECUENTES (FAQ)

Nuestros expertos están a su disposición para contestar preguntas. Envíe su pregunta y nuestros expertos le responderán directamente. Puede también recurrir a nuestra biblioteca de Preguntas frecuentes (FAQ) para recibir ayuda con su aplicación.

Comuníquese conmigo si tiene alguna pregunta o desea una cotización o recibir soporte para cualquier producto.

Ricardo Alonso
Particle Measuring Systems, Mexico
52 55 22 71 51 06
ralonso@pmeasuring.com

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Particle Measuring Systems es una empresa líder mundial en monitoreo de microcontaminación, con 35 años de experiencia en el desarrollo y la fabricación de contadores de partículas.

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