分子监测仪

AMC分析仪



使用点离子迁移分光计:AirSentry II

使用点离子迁移分光计:AirSentry II

  • 持续监测关键点位置
  • 设计小巧、紧凑
  • 0-50 ppb 动态范围


AirSentry II 校准工作站

AirSentry II 校准工作站

  • 产生精确的气相校准标准
  • 增湿校准点模拟周围环境
  • 对服务的要求极低

SMC分析仪

  表面分子沾染监测仪

AiM-200: 表面分子沾染(SMC)监测仪

  • 每个控制器可带2个探头,从而扩大了监测面积
  • 监测0.0032ng/cm /Hz的表面沉积量
  • 通过Facility Net软件进行实时数据采集、监测、报警
  • 采样频率高,采样间隔可短至5秒
文章 联系我们 关于我们 网站导航 客户推荐

精准质控始自精准监测
法律声明 版权所有 Copyright © 2002-2008 Particle Measuring Systems, Inc.

本网站所载信息未经通知既可能变化。

Web Media Engineering - website design Denver Colorado